YAMATAKE邊緣檢測(cè)傳感器,銷(xiāo)售山武檢測(cè)傳感器[產(chǎn)品打印頁(yè)面]

YAMATAKE邊緣檢測(cè)傳感器,銷(xiāo)售山武檢測(cè)傳感器
即使受光光量衰減，只要線(xiàn)性圖像傳感器的入光量不變，
邊緣位置的輸出值就不會(huì)變化。
可忽略薄膜不規(guī)則部分的干擾消除功能2
玻璃基板對(duì)準(zhǔn)時(shí)傾斜度θ計(jì)算功能3
通過(guò)位置變化檢測(cè)功能可檢測(cè)出玻璃基板上的缺口和裂痕3
因遮光引起受光量的減少，使PD的線(xiàn)性輸出發(fā)生變化。
這種傳統(tǒng)的PD方式，由于受光面污垢（或檢測(cè)物透明度）
造成受光光量衰減，使輸出值發(fā)生變化。
所以，為了防止污垢，需要進(jìn)行空氣吹掃。

YAMATAKE邊緣檢測(cè)傳感器,銷(xiāo)售山武檢測(cè)傳感器
PBZ激光傳感器采用平行激光束和一個(gè)
CMOS線(xiàn)性圖像傳感器專(zhuān)長(zhǎng)檢測(cè)薄膜、晶圓或玻璃基板的邊緣位置。
針對(duì)檢測(cè)面污垢會(huì)影響檢測(cè)精度的課題，
光射在刀片或薄膜等薄型物體邊緣處會(huì)發(fā)生衍射。
受光部衍射光的強(qiáng)度分布取決于受光器與薄型物體之間的距離(WD)。
不受檢測(cè)面污垢引起的受光光量衰減的影響
受光單元采用線(xiàn)性圖像傳感方式，
不受檢測(cè)面污垢的影響，實(shí)現(xiàn)高精度的檢測(cè)。并且，
配置了“光強(qiáng)度衰減報(bào)警功能”，到了維修時(shí)期便會(huì)發(fā)出警報(bào)。
根據(jù)各像素的亮度信息，測(cè)出遮光寬度。

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